XSI3000 LVDT 测微仪是适用于多种测量范围的高精度微位移检测仪器,可以独立实现纳米级微位移检测, 广泛应用于各种需要动,静态微位移检测的领域,具有性能优越,测量精度高,价格低等优点
应用特点
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可选配测试支架
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磁力表座 | 大理石测试支架 |
应用领域
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技术参数 | |||||||
接触式XSI3000
LVDT 测微仪主要参数 |
单位 |
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测量范围 |
-500 - +500 |
μm |
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档位选择 |
A 档 |
B 档 |
C 档 |
D 档 |
E 档 |
F 档 |
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-10~+10 |
-20~+20 |
-50~+50 |
-100~+100 |
-200~+200 |
-500~+500 |
μm |
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测量重复性 |
<0.04 |
<0.05 |
<0.07 |
<0.12 |
<0.13 |
<0.15 |
μm |
非线性 |
<0.1 |
<0.15 |
<0.2 |
<0.3 |
<0.4 |
<0.5 |
μm |
分辨率 |
0.005 |
0.007 |
0.010 |
0.013 |
0.015 |
0.020 |
μm |
模拟信号输出范围 |
-10~+10 |
V |
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模拟信号频率响应 |
1 (取决于传感器) |
KHz |
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显示刷新率 |
11 |
次/S |
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计算机接口模式 |
RS-232 |
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通讯速率 |
9600 |
Bps |
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数据采集时间 |
100 |
ms |
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输入功率 |
<50 |
W |
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供电电压 |
AC 220V±10% 50Hz±10% |
V |
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工作温度 |
0-+45 |
℃ |
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环境湿度 |
<85 |
% |
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外形尺寸(长×宽×高) |
283×238×108 |
mm |
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重量 |
2.2 |
kg |
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测头变化力 |
0.3 |
N |
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更换不同量程的测头,可以实现更大范围的检测,可到±10mm。 |
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陶瓷转接头 |
氧化铝转接头 |
金属转接头 |
促动器柔性转接头 |
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钨钢垫片 |
热稳定散热片 |
促动器与平台转接座 |
促动器测试支架 |
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粘镜片胶水 |
P34 镜片转接架 |
P32/ P33 镜片转接架 |
P32/P33 镜片转接座 |
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P22 测试支架 |
P32/P33 测试支架 |
P34 测试支架 |
P31/P54 测试支架 |
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BNC转LEMO |
BNC转鱼夹 |
单芯LEMO座转鱼夹 |
单芯LEMO线 |
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BNC连接头转鱼夹 |
LEMO 连接器 |
测试支架 |
磁力表座 |